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J-GLOBAL ID：202102251349036356   整理番号：21A0612813

冗長試験実行削減によるソフトウェア製品ラインの効率的回帰試験【JST・京大機械翻訳】

Efficient Regression Testing of Software Product Lines by Reducing Redundant Test Executions

著者 (3件)： Jung Pilsu (School of Computing, KAIST, Daejeon 34141, Korea) ,  Kang Sungwon (School of Computing, KAIST, Daejeon 34141, Korea) ,  Lee Jihyun (Department of Software Engineering, Jeonbuk National University, Jeonju 54896, Korea)
資料名： Applied Sciences (Web)  (Applied Sciences (Web))
巻： 10  号： 23  ページ： 8686  発行年： 2020年 
JST資料番号： U7135A  ISSN： 2076-3417  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ソフトウェア製品ライン(SPLs)の回帰分析は,製品ファミリの全ての製品が,変化を行うとき,正しく働くことを保証しなければならないので,挑戦的である。回帰試験のコストを低減する一つのアプローチは回帰試験選択(RTS)であり,回帰試験事例のサブセットを選択する。しかし,RTSが適用される場合でも,製品ラインコンテキストにおいて,各テストケースはテストケースを再利用する1つ以上の製品で実行でき,これは典型的には多数のテスト実行をもたらす。有望な方向は,テストケースの冗長な試験実行を除去することである。テストケースが,テストケースがソースコードステートメントの同じシーケンスをカバーして,同じテスト結果を生み出して,次にテストケースを適用するために製品からこれらの製品を除外する,一連の製品を同定する方法を提案した。評価結果は,全選択アプローチと単一ソフトウェアシステムに対するRTS法を反復適用するアプローチが試験選択のために使用されたとき,著者らの方法は,アプローチの試験実行の数のそれぞれ59.3%と40.0%を減らすことを示した。Copyright 2021 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 回帰分析 ,  *冗長性 ,  再利用 ,  *ソフトウェア商品
準シソーラス用語： *製品ライン ,  製品群 ,  テストケース ,  ソースコード ,  ソフトウェアシステム ,  *回帰試験 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： ソフトウェア製品ライン ,  回帰試験 ,  テスト冗長性 ,  等価試験実行

分類 (1件)： 計算機システム開発  (JD02010R)

引用文献 (40件)：

• Aggarwal, K.K.; Yogesh, S. Software Engineering Programs Documentation, Operating Procedures, 2nd ed.; Revised; New Age International Publishers: New Delhi, India, 2005.
• Kazmi, R.; Jawawi, D.N.; Mohamad, R.; Ghani, I. Effective regression test case selection: A systematic literature review. ACM Comput. Surv. 2017, 50, 29.
• Pohl, K.; Böckle, G.; Van der Linden, F.J. Software Product Line Engineering: Foundations, Principles and Techniques; Springer Science & Business Media: Berlin/Heidelberg, Germany, 2005; p. 359.
• Lity, S.; Nieke, M.; Thüm, T.; Schaefer, I. Retest test selection for product-line regression testing of variants and versions of variants. J. Syst. Softw. 2019, 147, 46-63.
• Neto, P.A.D.M.S.; Do Carmo Machado, I.; Cavalcanti, Y.C.; De Almeida, E.S.; Garcia, V.C.; De Lemos Meira, S.R. A regression testing approach for software product lines architectures. In Proceedings of the 4th Brazilian Symposium on Software Components, Architectures and Reuse (SBCARS), Bahia, Brazil, 27-29 September 2010; pp. 41-50.

タイトルに関連する用語 (5件)： 冗長 ,  試験 ,  ソフトウェア ,  製品ライン ,  回帰試験