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J-GLOBAL ID：202102252009459943   整理番号：21A0033646

リッチおよび信頼実行環境におけるサイドチャネル漏洩の比較【JST・京大機械翻訳】

Comparison of side-channel leakage on Rich and Trusted Execution Environments

著者 (5件)： Leignac Paul (Mines Saint-Etienne, CEA-Tech, Centre CMP, Departement SAS, Gardanne, FRANCE) ,  Potin Olivier (Mines Saint-Etienne, CEA-Tech, Centre CMP, Departement SAS, Gardanne, FRANCE) ,  Rigaud Jean-Baptiste (Mines Saint-Etienne, CEA-Tech, Centre CMP, Departement SAS, Gardanne, FRANCE) ,  Dutertre Jean-Max (Mines Saint-Etienne, CEA-Tech, Centre CMP, Departement SAS, Gardanne, FRANCE) ,  Pontie Simon (CEA Tech, Centre CMP, Equipe Commune CEA Tech - Mines Saint-Etienne, Gardanne, FRANCE)
資料名： ACM Proceedings  (ACM Proceedings)
号： CS2 ’19  ページ： 19-22  発行年： 2019年 
JST資料番号： D0698C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 信用実行環境(TEE)は,ARMアーキテクチャに基づくチップ(SoC)のシステム内部のセキュリティを改善するために作られたソフトウェアソリューションである。それは,Richオペレーティングシステム(Rich OS)の機能性,例えばAndroid,およびSecure要素(SE)のセキュリティの間の妥協を提供する。ARM TrustZoneは,SoCを2つの世界(Normal World and Secure World)の間で分離する。Trusted OS(TEE上のOS)は,Rich OSからその実行とデータを分離,安全ないくつかのセキュリティ機構を持ち,それをデータftから節約する。これらのメカニズムがRich OSからのソフトウェア攻撃を防止するために行われるならば,本論文は物理的攻撃に直面したTEEからのデータ漏洩の同定に見えることを提案する。特に,試験ベクトル漏洩評価(TVLA)方法論を用いた電磁(EM)放出に関するサイドチャネル解析が漏れを同定でき,相関電磁解析(CEMA)が結果を利用することができる。Please refer to this article’s citation page on the publisher website for specific rights information. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ベクトル ,  オペレーティングシステム ,  *ソフトウェア ,  チャネル ,  セキュリティ
準シソーラス用語： システムオンチップ ,  機能性 ,  *実行環境 ,  アンドロイド ,  ARMアーキテクチャ ,  システム内部 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (8件)： ARM信頼ゾーン ,  CEMA ,  電磁 ,  評価 ,  セキュリティ ,  サイドチャネル ,  TVLA ,  信頼実行環境

分類 (1件)： データ保護  (JD01020V)

タイトルに関連する用語 (4件)： 信頼 ,  実行環境 ,  チャネル ,  漏洩