抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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一般的なモード干渉(CMI)に対するロバスト性を改善することは,信頼できる二電極ECG記録のために不可欠である。CMIは2つの方法で信号品質を低下させる。最初に,差動モード(CM-DM)変換に対する共通モードのため,ECGと共に差動モード信号として現れる。これは,接触が長期記録中に異なる特性を失うので,しばしば電極インピーダンス不整合による。第2に,供給電圧を超えるCMIは増幅器を飽和し,対象が電力線[4]に近いとき記録を歪める。これらの問題の両方に取り組むために,再符号化ICは,大きなCMIに耐える必要があり,また,電極不整合の影響を含む大きな全CMRR(T-CMRR)を有する。残念なことに,先行研究は,それらの1つだけに解決策を提供し,従って,実際の設定において信頼できる長期ECG記録の欠如がある。[2,3]では,CM-DM変換が,共通モードにおける入力インピーダンスを増加させることによって対処される。しかし,大きなCMIがあるとき,IAは失敗した。さらに,入力インピーダンスブースティング法の主な課題の一つは,1/f雑音低減におけるその利点にもかかわらず,入力インピーダンスを低減するので,チョッピングは使用できないことである。したがって,低入力インピーダンスIAに有効なCM-DM抑制技術が望まれる。[4,5]では,CMIへの耐性はCMI電流を吸収することにより改善される。しかし,それらのT-CMRRは貧弱である。本研究では,適応CMI-canceling技術によるCMI耐性増幅器を提案した。入力容量が120pFと大きい場合でも,152kΩの電極不整合と15VのCMIがあるとき,T-CMRRの100dBを確実にする。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】