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J-GLOBAL ID：202102254003857156   整理番号：21A0048034

低エネルギー二次電子のマイクロ波エネルギー窓破壊現象への影響【JST・京大機械翻訳】

Effects of low energy secondary electrons on breakdown of dielectric window

著者 (4件)： Zhang Xue (湘潭大学 自動化与電子信息学院,湖南 湘潭 411105) ,  Wang Tao (湘潭大学 自動化与電子信息学院,湖南 湘潭 411105) ,  Ni Xinrong (湘潭大学 自動化与電子信息学院,湖南 湘潭 411105) ,  Cai Chenglin (湘潭大学 自動化与電子信息学院,湖南 湘潭 411105)
資料名： Qiangjiguang yu Lizishu  (Qiangjiguang yu Lizishu)
巻： 32  号： 10  ページ： 49-54  発行年： 2020年 
JST資料番号： C2482A  ISSN： 1001-4322  CODEN： QYLIEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： マイクロ波エネルギー窓の二次電子増倍効果のシミュレーション研究において、低エネルギー電子の作用を無視する。MonteCarloアルゴリズムに基づいて,2次電子増倍の古典的Vaughanモデル,Vincentモデル,およびRiceモデルの二次電子増倍効果の差異をシミュレーションし,倍増感度曲線にフィットさせた。低エネルギー電子の接線方向と法線電場によるエネルギー窓の二次電子増倍効果への影響を得た。シミュレーションの結果は,3つの放射モデルの感度曲線が,接線電場によってほとんど重なり,低エネルギー電子が敏感な曲線にほとんど影響を及ぼさないことを示し,Riceモデルの敏感な領域は最大であった。Vincentモデルの適合によって得られる敏感な領域は,電場が電場に作用するとき,他の2つのモデルよりはるかに大きい。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  シミュレーション ,  *電場 ,  計算機シミュレーション ,  接線方向
準シソーラス用語： *低エネルギー ,  *二次電子 ,  エネルギー電子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子管,放電管  (NC02020D)

タイトルに関連する用語 (6件)： 低エネルギー ,  二次電子 ,  マイクロ波エネルギー ,  窓 ,  破壊 ,  現象