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J-GLOBAL ID：202102254972845675   整理番号：21A0695891

フローティングパルスプローブ法による電子温度の測定

Measurement of electron temperature by floating pulsed probe method

著者 (3件)： 片平豪 (東京電機大) ,  大内幹夫 (東京電機大) ,  佐藤修一 (東京電機大)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 81st  ページ： ROMBUNNO.8a-Z04-10  発行年： 2020年08月26日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： はじめに.プラズマを測定する基礎的な方法として、ラングミュアプローブ(LP)法が挙げられる。しかし、プローブ表面の絶縁物の影響などから、プローブ特性を解析することによって得られるプラズマパラメータに誤差が発生してしまう。そこで、当研究グルー...【本文一部表示】

シソーラス用語： Langmuir探針 ,  コンデンサ ,  プラズマ ,  電圧 ,  電位 ,  *電子温度 ,  電流 ,  ホロー陰極 ,  タングステン ,  ステンレス鋼 ,  絶縁材料 ,  オシロスコープ ,  ブロッキング ,  アノード ,  カソード

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (1件)： 電子温度