抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本論文では,MOSSPICE局所ミスマッチモデルを提示し,その中で,既存のSPICE局所不整合モデル方程式に温度効果係数を加えた。MOSデバイスのSPICE局所ミスマッチモデルに及ぼす温度変化の影響を,完全に考察した。本論文は,温度の変化による局所不整合の変化を正確に反映することができ,SPICE局所不整合モデルは,より広い応用範囲と測定データとのより高い一致度を有する。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】