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J-GLOBAL ID：202102261917207610   整理番号：21A3306674

アニオンポリアクリルアミドに起因する膜汚損に及ぼすカチオンの影響に関する新しい機構的洞察【JST・京大機械翻訳】

New mechanistic insights into the effect of cations on membrane fouling caused by anionic polyacrylamide

著者 (7件)： Zhang Bing (National Research Base of Intelligent Manufacturing Service, Chongqing Technology and Business University, Chongqing 400067, China) ,  Tang Heli (National Research Base of Intelligent Manufacturing Service, Chongqing Technology and Business University, Chongqing 400067, China) ,  Chen Jinyu (Hubei HouShui Technology Development Co., Ltd., Wuhan 430000, China) ,  Zhang Bing (School of Environmental and Ecology, Chongqing University, Chongqing 400044, China) ,  Shen Yu (National Research Base of Intelligent Manufacturing Service, Chongqing Technology and Business University, Chongqing 400067, China) ,  Shen Yu (Chongqing South-to-Thais Environmental Protection Technology Research Institute Co., Ltd., Chongqing 400060, China) ,  Shi Wenxin (School of Environmental and Ecology, Chongqing University, Chongqing 400044, China)
資料名： Journal of Colloid and Interface Science  (Journal of Colloid and Interface Science)
巻： 606  号： P1  ページ： 10-21  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0279A  ISSN： 0021-9797  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 膜汚損に対するカチオンの影響を理解することは,膜技術の広範な応用にとって重要である。しかし,異なる研究に基づき矛盾する結果が報告されている。さらに,イオン強度の影響は広く研究されているが,膜汚損に対するイオン型の影響に関して利用可能な情報は限られている。膜およびアニオン性ポリアクリルアミド(APAM)の物理化学的性質を評価し,APAM-膜およびAPAM-APAM界面相互作用エネルギーを異なる条件下で計算した。さらに,一連の精密ろ過(MF)実験を行い,MFプロセス中のAPAMのフラックス低下,細孔閉塞及びケーキ層抵抗,及びフラックス回復速度に及ぼすイオン条件の影響を調べた。イオン強度が増加するにつれて,正規化フラックスの減少率は増加し,全およびケーキ層抵抗は著しく増加し,細孔閉塞抵抗はわずかに影響を受け,物理的および化学的洗浄後の水フラックスの回復率は次第に減少し,それはDerjaguin-Landau-Verwey-Overbeek理論を用いて明確に説明できた。さらに,Na+と比較して,Ca2+は,APAM膜およびAPAM-APAMの水和力に起因する同一イオン強度で膜汚損を効果的に緩和することができた。Copyright 2021 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： イオン ,  化学洗浄 ,  水和 ,  *ポリアクリルアミド ,  精密濾過 ,  *アニオン ,  *カチオン ,  イオン強度 ,  細孔 ,  正規化
準シソーラス用語： 物理化学的性質 ,  界面相互作用 ,  *膜ファウリング ,  水フラックス ,  膜技術 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 膜汚損 ,  アニオン性ポリアクリルアミド ,  イオンアイデンティティ ,  イオン強度 ,  水和力

分類 (2件)： コロイド化学一般  (CB11010C) ,  高分子固体の物理的性質  (CG02024U)

タイトルに関連する用語 (4件)： 起因 ,  膜汚損 ,  カチオン ,  洞察