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J-GLOBAL ID：202102262042357033   整理番号：21A0912652

超音波顕微鏡による内部欠陥検出の応用【JST・京大機械翻訳】

Application of Scanning Acoustic Microscope in Defect Detection of Plastic Packaging Products

著者 (3件)： Xia Lei (无錫中微高科電子有限公司,江蘇无錫214035) ,  Zou Zhimin (无錫中微高科電子有限公司,江蘇无錫214035) ,  Zhang Hao (无錫中微高科電子有限公司,江蘇无錫214035)
資料名： Dianzi Chanpin Kekaoxing yu Huanjing Shiyan  (Dianzi Chanpin Kekaoxing yu Huanjing Shiyan)
巻： 38  号： 3  ページ： 34-39  発行年： 2020年 
JST資料番号： C4497A  ISSN： 1672-5468  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 超音波走査顕微鏡は,半導体および電子産業において広く用いられる非破壊検査装置である。半導体の可塑化業界では、主にプラスチック製品の内部の層化、空洞などの欠陥を検査・測定するため、他の測定設備に対して、この方面において、無比の優位性がある。最初に,超音波顕微鏡の原理を紹介した。次に,プラスチック製品の検出を,詳細に解析した。最後に、プラスチックシールデバイスの超音波スキャン検査の関連基準を紹介し、関連スタッフが超音波顕微境の操作原理と使用方法をよりよく把握し、それによって、プラスチックシールデバイスの信頼性向上に役立てた。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *超音波 ,  半導体 ,  プラスチック ,  可塑化 ,  内部欠陥 ,  非破壊検査 ,  成層 ,  *超音波顕微鏡
準シソーラス用語： 信頼性向上 ,  プラスチック製品 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (3件)： 超音波顕微鏡 ,  内部欠陥 ,  応用