文献
J-GLOBAL ID:202102262879539049   整理番号:21A0151580

RF GaNデバイスモデル調査とモデルパラメータ抽出フロー【JST・京大機械翻訳】

RF GaN Device Model Survey and Model Parameter Extraction Flows
著者 (4件):
資料名:
巻: 2020  号: ICSICT  ページ: 1-3  発行年: 2020年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
GaN(Gallium-Nitride)デバイスは,5G,レーダ,および電力エレクトロニクスの市場受容において,それらの高出力処理能力と線形性により進歩を続けている。GaN技術は,与えられた周波数で最も高い電力,利得,および効率の組合せを同時に提供できるので,他のRF技術より優れている。これらのデバイスの使用における市場動向,技術および課題をレビューした。2018年に,2つの新しい物理ベースGaNモデルを他のモデルのバックドロップとして産業標準として受け入れた。正確なRF GaNモデルに対する成長の必要性に取り組むために,新しいモデルパラメータ抽出フローを,IC-CAPソフトウェアフレームワーク,DC-IV,キャパシタンスおよびS-パラメータデータを利用して示した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
図形・画像処理一般 

前のページに戻る