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J-GLOBAL ID:202102264519879806   整理番号:21A1821704

自動車エレクトロニクスのための次世代のアプリケーション駆動信頼性研究:挑戦とアプローチ【JST・京大機械翻訳】

Application Driven Reliability Research of Next Generation for Automotive Electronics: Challenges and Approaches
著者 (4件):
資料名:
号: InterPACK2017  ページ: Null  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0478C  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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完全に接続した自動電気自動車に対する自動車産業における革命変化は,先例のない速度で自動車エレクトロニクスの開発を必要とする。信号,制御,および電力エレクトロニクスは,センサとアクチュエータを有する最小空間に不均一に統合され,牽引,照明,エネルギー管理,計算,および通信のような機能のための非常にコンパクトで超スマートなシステムを形成する。これらのシステムの殆どは,今日の既に高い自動車規格を超えるシステムアベイラビリティにおける要求と非常に安全である。今日の人間運転者以外の自動車の乗客は,車両の運転行動に一定の注意を払わない。したがって,信頼性研究は,新しい自動車応用によって,大規模に挑戦される。統計的平均での指定寿命の保証はもはや十分ではない。個々の安全関連部品の故障が予想外に起こることは,最も重要である。本論文では,大きな課題に対処するために,優先行動を調査した。それは,信頼性研究の全3方向,すなわち,実験信頼性試験および物理的解析における実際的用例を強調して,新規および非常に効率的な加速応力試験は,この分野における複雑で多倍荷重状況をカバーすることができた。新しい解析的技法は,典型的な故障モードとその物理的根本原因を同定できる:仮想技術:検証シミュレーションのスキームは,信頼性プロセス,iii)Prognostics健康管理(PHM)のための設計において,故障の物理を捉えることを可能にし,自律車両に必要な機能的安全性を提供するために,様々なレベルの自動車エレクトロニクスにおける最小PHM特徴の追加のために,新しい概念を導入した。この方法によって,信頼性法の新世代は,時間内にメンテナンスをトリガするために,実際の使用条件の下で,各関連部分に対する残留有効寿命(RUL)の推定値を連続的に提供するであろう。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (3件):
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電気自動車  ,  運転者  ,  電装品 
タイトルに関連する用語 (5件):
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