文献

J-GLOBAL ID：202102268310083039   整理番号：21A1242906

集積回路の双面老練案研究【JST・京大機械翻訳】

Research of Integrated Circuit’s Domestic Burn-in Experiment with Double-side Board

著者 (3件)： Luo Jing (航天科工防御技術研究試験中心,北京,100854) ,  Zhao Peng (航天科工防御技術研究試験中心,北京,100854) ,  Wang Tan (航天科工防御技術研究試験中心,北京,100854)
資料名： Dianzi Ceshi  (Dianzi Ceshi)
号： 23  ページ： 111-112,96  発行年： 2020年 
JST資料番号： C4385A  ISSN： 1000-8519  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 動的老練試験は,メタデバイス信頼性試験における極めて重要なプロセスであり,早期故障要素デバイスを,古い製錬によって除去することができた。本論文では、老練試験の重要性、実現方式及び特徴を簡単に紹介し、2種類の両面老練板工芸効率改善案を提案し、老練設備を購入しない前提で、老練効率を80%以上向上させ、実践によりその実現可能性を検証した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *集積回路 ,  効率化 ,  故障 ,  信頼性試験 ,  製錬

分類 (1件)： 運転者  (TB01040V)

タイトルに関連する用語 (2件)： 集積回路 ,  研究