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J-GLOBAL ID：202102269783075260   整理番号：21A2386497

受注生産システムにおける最適順序-ロットマッチングのための支配条件【JST・京大機械翻訳】

Dominance Conditions for Optimal Order-Lot Matching in the Make-To-Order Production System

著者 (4件)： Kim Jae-Gon (Department of Industrial and Management Engineering, Incheon National University, Incheon 22012, Korea) ,  Bang June-Young (Department of Industrial and Management Engineering, Sungkyul University, Gyeonggi-do 14097, Korea) ,  Jun Hong-Bae (Department of Industrial Engineering, Hongik University, Seoul 04066, Korea) ,  Shin Jong-Ho (Department of Industrial Engineering, Chosun University, Gwangju 61452, Korea)
資料名： Processes (Web)  (Processes (Web))
巻： 8  号： 2  ページ： 255  発行年： 2020年 
JST資料番号： U7264A  ISSN： 2227-9717  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 順序-スロットマッチングは,注文の日付に応えるために,注文生産システムに多くの処理するアイテムを割り当てるプロセスであった。本研究では,順序-スロットマッチング問題(OLMP)を考慮して,異なる日付で次数の全遅延を最小化する。本研究で考慮したOLMPでは,生産施設における多くの項目の割当を決定するだけでなく,与えられた時間地平地に対する多くの放出計画を生成する必要がある。OLMPは,単一マシン総遅延スケジューリング問題(1||T_i)と多くの類似性を持つ特殊なタイプの機械スケジューリング問題として考慮できることを示した。1||T_iの修正と支配条件に基づく動的計画法(DP)モデルによるOLMPの支配条件を示唆した。2つの用例問題によって,著者らはDPモデルが最適に小型のOLMPを解決できることを示した。Copyright 2021 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *受注生産 ,  スケジューリング ,  動的計画法 ,  類似性 ,  生産設備
準シソーラス用語： 用例 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 順序-ロットマッチング問題 ,  機械スケジューリング ,  全遅れ ,  動的計画法 ,  支配条件

分類 (1件)： 工程管理  (KB03030P)

引用文献 (20件)：

• Iris, C.; Yenisey, M. Multi-item simultaneous lot sizing and storage allocation with production and warehouse capacities. In Computational Logistics; Springer: Berlin/Heidelberg, Germany, 2012; pp. 129-141.
• Phouratsamay, S.-L.; Kedad-Sidhoum, S.; Pascual, F. Two-level lot-sizing with inventory bounds. Discret. Optim. 2018, 30, 1-19.
• Knutson, K.; Kempf, K.; Fowler, J. Lot-to-order matching for a semiconductor assembly and test facility. IIE Trans. 1999, 31, 1103-1111.
• Fowler, J.; Knutson, K.; Carlyle, M. Comparison and evaluation of lot-to-order matching policies for a semiconductor assembly and test facility. Int. J. Prod. Res. 2000, 38, 1841-1853.
• Carlyle, M.; Knutson, K.; Fowler, J. Bin covering algorithms in the second stage of the lot to order matching problem. J. Oper. Res. Soc. 2001, 52, 1232-1243.

タイトルに関連する用語 (5件)： 受注 ,  順序 ,  ロット ,  マッチング ,  支配