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J-GLOBAL ID：202102270977433593   整理番号：21A0834878

OLEDにおけるインジウム拡散現象の分析

Analysis of Indium Diffusion Phenomenon in OLED

著者 (4件)： ANAMIZU Hiroyuki (Hachinohe Inst. of Technol., Aomori, JPN) ,  SASAKI Takanori (Hachinohe Inst. of Technol., Aomori, JPN) ,  SEKI Hidehiro (Hachinohe Inst. of Technol., Aomori, JPN) ,  TOYOKAWA Minoru (ANOVA Corp., Aomori, JPN)
資料名： Proceedings of the International Display Workshops (CD-ROM)  (Proceedings of the International Display Workshops (CD-ROM))
巻： 24th  ページ： ROMBUNNO.OLEDp1-7  発行年： 2017年12月05日 
JST資料番号： L4269B  ISSN： 1883-2504  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ・次世代照明装置として注目されている有機発光ダイオード(OLED)の従来研究では,イオン性インジウム拡散による発光効率とデバイス寿命の関係を指摘。
・OLED製造中での透明電極エッチングに使用される酸においてイオン性残留物生成の可能性が低い材料に変更することにより,インジウム拡散を抑制できることを提示。
・結果として,エッチングに使用する酸を変えることでインジウム拡散を抑え,デバイス寿命を延ばすことが可能。

シソーラス用語： *発光ダイオード ,  *インジウム ,  *現象 ,  *分析 ,  効率 ,  寿命 ,  透明電極 ,  エッチング ,  酸 ,  残留物
準シソーラス用語： *OLED ,  *拡散現象 ,  発光効率

分類 (2件)： 発光素子  (NC03082G) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

引用文献 (4件)：

• Y. Fukuda: ′′Tasks in Organic EL Display Devices′′, Journal of the Surface Science Society of Japan Vol.25, No. 9, pp. 594-598 (2004).
• T. Miyamoto and N. Fujiyama: ′′Study of Impurity Diffusion through an OLED Device Interface by Backside SIMS′′, Journal of the Surface Science Society of Japan, Vol. 28, No. 5, pp. 249-252(2007).
• M. Toyokawa, et. al.: ′′Analysis of Diffused Indium Ingredient on the Interface between ITO and CuPc in OLED′′, 2015 Tohoku-Section Joint Convention Record of Institute of Electrical and Information Engineers, Japan, 2E10 (2015).
• H. Kubo, et. al.: ′′Influence of the Difference of Driving Method for Device Characteristics of an OLED′′, Transaction of the Materials Research Society of Japan Vol. 37, No.1, pp. 23-26 (2012).

タイトルに関連する用語 (4件)： OLED ,  インジウム ,  拡散現象 ,  分析