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J-GLOBAL ID：202102273474716709   整理番号：21A0183627

放射光を用いたピンホール型二次元蛍光イメージングXAFS法の開発

Development of SR-based pinhole-type fluorescence Imaging XAFS

著者 (2件)： 谷田肇 (JAEA) ,  岡本芳浩 (JAEA)
資料名： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
巻： 56th (CD-ROM)  ページ： 67-68  発行年： 2020年10月28日 
JST資料番号： S0881A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *高レベル廃棄物 ,  *ガラス固化 ,  固有X線 ,  *二次元 ,  *蛍光測定 ,  *XAFS ,  *シンクロトロン放射 ,  CCDカメラ ,  *ピンホールカメラ ,  酸化セリウム ,  セリウム化合物 ,  リン酸塩
準シソーラス用語： *アンジュレータ放射 ,  *ガラス固化体 ,  蛍光X線 ,  *蛍光イメージング ,  燐酸セリウム

分類 (2件)： 放射性廃棄物  (MB05000Y) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (5件)： 放射光 ,  ピンホール ,  蛍光イメージング ,  XAFS ,  開発