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J-GLOBAL ID：202102274248616682   整理番号：21A0100783

飛行時間二次イオン質量分析法による一次汚染過程におけるPM2.5の表面成分分析への応用【JST・京大機械翻訳】

Application of Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry in the Analysis of PM2. 5 Surface Components in the Process of Primary Pollution

著者 (7件)： Chen Pengsan (斉斉哈爾大学化学与化学工程学院,黒竜江 斉斉哈爾 161006) ,  Zheng Yongjie (斉斉哈爾大学化学与化学工程学院,黒竜江 斉斉哈爾 161006) ,  Tian Jingzhi (斉斉哈爾大学化学与化学工程学院,黒竜江 斉斉哈爾 161006) ,  Wang Meimei (斉斉哈爾大学化学与化学工程学院,黒竜江 斉斉哈爾 161006) ,  Li Zhe (斉斉哈爾大学化学与化学工程学院,黒竜江 斉斉哈爾 161006) ,  Cao Xiangyu (斉斉哈爾大学化学与化学工程学院,黒竜江 斉斉哈爾 161006) ,  Wang Zhigang (斉斉哈爾大学化学与化学工程学院,黒竜江 斉斉哈爾 161006)
資料名： Zhongguo Huanjing Jiance  (Zhongguo Huanjing Jiance)
巻： 36  号： 5  ページ： 138-145  発行年： 2020年 
JST資料番号： C2768A  ISSN： 1002-6002  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： クラスタイオン源の発明と使用は,飛行時間二次イオン質量分析(TOF-SIMS)法を材料表面化学分析にますます重要にする手段となり,TOF-SIMS法の主要な試験機能は表層質量分析,化学イメージング及び深さプロファイリングを含む3種類である。TOF-SIMS法を用いて、一次汚染過程における大気微粒子(PM2.5)の表層を測定し、PM2.5表面成分の質量スペクトル及びイメージング情報を得た。結果は以下を示した。PM2.5の表層に多種の金属イオンが存在し、走査型電子顕微鏡エネルギースペクトロメータの形態学と飛行時間二次イオン質量分析計の画像輝度分析で、K+、Na+、Mg2+の応答強度が相対的に強く、含有量が高いことが分かった。2018年11月4日と12月24日のK+,Na+,Mg2+の平均質量はそれぞれ1.8095,0.4438,1.5262mgであり,原子吸光光度計による金属イオン定量は,2018年11月4日と12月24日のK+,Na+,Mg2+の平均質量が,それぞれ,1.8095,0.4438,1.5262mgであることを示した。形態分布から見ると、PM2.5表面のエーロゾル集合体の含有量は多く、その次は石炭灰、鉱物粒子と超微細未知粒子である。PM2.5表層の有機物イオンCxHyの断片も多く、m/zのテストデータによりさらに確定し、粒子状物質表層には大量の脂肪族炭化水素と芳香族炭化水素が含まれることが明らかになった。そのほか、N、O、Sなどの有機物と無機物が存在する。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エアロゾル ,  化学分析 ,  質量スペクトル ,  *質量分析 ,  走査電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  輝度 ,  表層 ,  微粒子 ,  芳香族炭化水素 ,  無機質 ,  画像処理 ,  金属イオン ,  凝集体 ,  *PM2.5
準シソーラス用語： *TOF-SIMS , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 潤滑一般  (QB02010S) ,  有機化合物の物理分析  (CC03034A)

タイトルに関連する用語 (5件)： 飛行時間二次イオン質量分析 ,  汚染 ,  過程 ,  成分分析 ,  応用