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J-GLOBAL ID：202102275239613941   整理番号：21A0576439

デュアルストリーム畳込みネットワークと2つのはんだ領域を用いたSMT組立検査【JST・京大機械翻訳】

SMT Assembly Inspection Using Dual-Stream Convolutional Networks and Two Solder Regions

著者 (2件)： Kim Young-Gyu (Department of Control and Robot Engineering, Chungbuk National University, Cheongju 28644, Korea) ,  Park Tae-Hyoung (School of Electronics Engineering, Chungbuk National University, Cheongju 28644, Korea)
資料名： Applied Sciences (Web)  (Applied Sciences (Web))
巻： 10  号： 13  ページ： 4598  発行年： 2020年 
JST資料番号： U7135A  ISSN： 2076-3417  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面マウント技術ラインの自動光学検査は品質保証のためのプリント回路基板を検査し,チップアセンブリ欠陥を分類する。しかしながら,プリント回路基板画像に含まれるシルクラインのような干渉要素による単一ストリーム畳込みニューラルネットワークによる完全チップ成分画像を用いた以前の欠陥分類法の精度を改善することは困難である。本論文は,分類精度を増加させるために,遅いマージデュアルストリーム畳込みニューラルネットワークを提案した。2つのはんだ領域をプリント回路基板画像から抽出して,併合段階を有する畳込みニューラルネットワークに入力した。欠陥を分類できる新しい畳込みニューラルネットワーク構造を提案した。欠陥特性ははんだ領域に集中するので,分類精度は増加する。さらに,ネットワーク重量は入力データの減少により減少した。提案手法の実験結果は,フルチップ成分画像に基づく単一ストリーム畳込みニューラルネットワークよりもF1スコアにおいて5.3%高い性能を示した。Copyright 2021 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 干渉 ,  *畳込み ,  *ネットワーク ,  品質保証 ,  絹 ,  *はんだ ,  プリント基板
準シソーラス用語： 分類精度 ,  入力データ ,  欠陥分類 ,  畳込みニューラルネットワーク , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 自動光学検査 ,  欠陥分類 ,  畳込みニューラルネットワーク

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

引用文献 (32件)：

• Jing, L.; Jinan, G.; Zedong, H.; Jia, W. Application research of improved yolo v3 algorithm in PCB electronic component detection. Appl. Sci. 2019, 9, 3750.
• Yajun, C.; Peng, H.; Min, G.; Erhu, Z. Automatic feature region searching algorithm for image registration in printing defect inspection systems. Appl. Sci. 2019, 9, 4838.
• Yuk, E.H.; Park, S.H.; Park, C.S.; Baek, J.G. Feature-learning-based printed circuit board inspection via speeded-up robust features and random forest. Appl. Sci. 2018, 8, 932.
• Xie, H.; Kuang, Y.; Zhang, X. A High Speed AOI Algorithm for Chip Component Based on Image Difference. In Proceedings of the IEEE International Conference on Information Automation, Zhuhai, Macau, China, 22-25 June 2009; pp. 969-974.
• Wu, H.; Feng, G.; Li, H.; Zeng, X. Automated Visual Inspection of Surface Mounted Chip Components. In Proceedings of the International Conference on Mechatronics and Automation, Xi’an, China, 4-7 August 2010; pp. 1789-1794.

タイトルに関連する用語 (7件)： デュアル ,  ストリーム ,  畳込み ,  はんだ ,  SMT ,  組立 ,  検査