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J-GLOBAL ID：202102276675698203   整理番号：21A0960451

Cd様イオンからRh様イオンへの発光線のエネルギー依存性に関するCRモデリングによる解析

Analysis of the Energy Dependence of the Emission Lines in Rh- to Cd-like Ions through CR Modeling

著者 (6件)： PRITI (Univ. Electro-communications, Tokyo, JPN) ,  KIMURA Naoki (RIKEN, Saitama, JPN) ,  KODAMA Ryunosuke (Univ. Electro-communications, Tokyo, JPN) ,  NUMADATE Naoki (Univ. Electro-communications, Tokyo, JPN) ,  NUMADATE Naoki (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  NAKAMURA Nobuyuki (Univ. Electro-communications, Tokyo, JPN)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 75  号： 2  ページ： ROMBUNNO.8aA1-2  発行年： 2020年09月23日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

本文一部表示： 実験室プラズマ中のCd様からRh様(Ba_8+-Ba_11+)イオンへのイオン化過程の分析を示した。Baイオンに対するコンパクトな電子ビームイオントラップ(CoBIT)を用いた種々の電子ビームエネルギー(100~180eV)で記録した実験的...【JST・京大機械翻訳】【本文一部表示】

シソーラス用語： プラズマ ,  イオン化 ,  イオントラッピング ,  *発光スペクトル ,  閾値 ,  準安定状態 ,  *エネルギー依存性 ,  微細構造 ,  放射 ,  電子衝突 ,  放射性崩壊 ,  *遷移確率 ,  断面積
準シソーラス用語： *イオントラップ ,  *衝突断面積 ,  *電子ビームイオントラップ

分類 (2件)： 原子間相互作用  (BH04020U) ,  電子と分子の衝突・散乱  (BH07030A)

タイトルに関連する用語 (7件)： Cd ,  イオン ,  Rh ,  エネルギー依存性 ,  Cr ,  モデリング ,  解析