文献

J-GLOBAL ID：202102279134363077   整理番号：21A1821982

フレキシブル電子デバイスの付加製造(AM):形状-形状(SfS)画像解析を用いたエアロゾルジェット印刷工程における3D線トポロジーのオンライン監視【JST・京大機械翻訳】

Additive Manufacturing (AM) of Flexible Electronic Devices: Online Monitoring of 3D Line Topology in Aerosol Jet Printing Process Using Shape-From-Shading (SfS) Image Analysis

著者 (4件)： Salary Roozbeh (Ross) (State University of New York at Binghamton, Binghamton, NY) ,  Lombardi Jack P. (State University of New York at Binghamton, Binghamton, NY) ,  Rao Prahalad K. (University of Nebraska - Lincoln, Lincoln, NE) ,  Poliks Mark D. (State University of New York at Binghamton, Binghamton, NY)
資料名： ASME Conference Proceedings  (ASME Conference Proceedings)
号： MSEC2017  ページ： Null  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0478C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究の目的は,エアロゾルジェット印刷(AJP)添加剤製造(AM)プロセスを用いて作製したフレキシブル電子デバイスのオンライン品質モニタリングである。この目標の追求において,目的は,in situ画像を通してAJPプリント電子トレース(ライン)の3Dトポロジーを回復し,定量化することである。意図は,デバイスの電気的性能特性のオンライン予測のために推定3Dトポロジーを使用することである。この目的を実現するために,異なる形状-シェーディング(SfS)技術を試験し,高分解能in situ2D画像からラインの3Dトポロジーを復元した。これらの画像は,著者らの実験Optomec AJ300 AJP装置に設置したCCDカメラから得られた。オンライン実験傾向を検証するために白色光干渉測定を用いた。3種類のSfSアルゴリズム,すなわち最小化法,Pentland法,およびShah法を試験した。合成画像と実験データによる試験は,Shahの方法がより適切であることを示した。線の厚さのオンラインとオフライン推定の間の相関は~80%であった。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  *位相幾何学 ,  *印刷 ,  干渉測定 ,  白色光 ,  *画像分析 ,  *三次元 ,  高分解能 ,  CCDカメラ ,  *付加製造
準シソーラス用語： *電子素子 ,  *オンライン ,  シェーディング ,  *オンライン監視 ,  オフライン , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 印刷  (ZA05040A) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (7件)： 電子デバイス ,  付加製造 ,  Am ,  画像解析 ,  3D ,  トポロジー ,  オンライン監視