Fuersattel Peter について
Pattern Recognition Lab, University of Erlangen - Nuremberg, Erlangen, Germany について
Fuersattel Peter について
Metrilus GmbH, Erlangen, Germany について
Plank Claus について
Ostbayerische Technische Hochschule Regensburg, Regensburg, Germany について
Maier Andreas について
Pattern Recognition Lab, University of Erlangen - Nuremberg, Erlangen, Germany について
Riess Christian について
Pattern Recognition Lab, University of Erlangen - Nuremberg, Erlangen, Germany について
IPSJ Transactions on Computer Vision and Applications (Web) について
センサ について
キャリブレーション について
レーザスキャナ について
多モード について
性質 について
輝度 について
反射率 について
アラインメント について
カメラ校正 について
マルチモーダル について
距離センサ について
空間関係 について
図形・画像処理一般 について
距離センサ について
評価 について
応用 について
カメラ較正 について
レーザスキャナ について