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J-GLOBAL ID:202102281027601133   整理番号:21A0229350

HVDC GIS/GILポスト碍子の表面電荷蓄積と散逸に関する実験的研究【JST・京大機械翻訳】

Experimental Study on Surface Charge Accumulation and Dissipation of HVDC GIS/GIL Post Insulator
著者 (9件):
資料名:
巻: 2020  号: HVDC  ページ: 503-508  発行年: 2020年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ガス絶縁金属封入スイッチギア(GIS)と送電線(GIL)は,基本的に,ガスチャンバー分離と導体サポートに使用される同じポスト碍子を持っている。それらはGIS/GIL装置の電気絶縁と機械的強度における弱いリンクである。DC電場におけるGIS/GILポスト碍子の電荷蓄積と散逸の法則,特に碍子または電極の表面上に小さな欠陥があるときの電荷蓄積挙動は,表面フラッシュオーバと近接場ガス絶縁破壊を減らす前提であり,また,HVDC製品技術を開発する鍵である。一組のポスト碍子表面電荷測定システムを確立した。静電プローブは蓄積電荷だけによって絶縁体の全表面の電位分布を測定することができる。異なるガス(SF_6,N_2,CO_2),異なる電圧(+200kV-+450kV)およびガス圧(latmおよび4atmの絶対値)を有する絶縁体の表面電荷の蓄積および散逸法則を研究した。そして,ガス放電前後の碍子の表面電位分布法則を,測定システムにおいて比較した。本論文の結果は,ポストエポキシ樹脂碍子の実際の運転挙動特性のために,より包括的な実験データを提供し,それは,HVDC GIS/GILガス-固体絶縁構造の設計を導くための一定の基準値を持っている。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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