Zhou Jun について
Institute of Microelectronics, Northwestern Polytechnical University, China,Xi’an,Shaanxi,China,710072 について
Wang Jianwen について
Institute of Microelectronics, Northwestern Polytechnical University, China,Xi’an,Shaanxi,China,710072 について
Wang Bo について
Institute of Microelectronics, Northwestern Polytechnical University, China,Xi’an,Shaanxi,China,710072 について
Yao Yingpeng について
Institute of Microelectronics, Northwestern Polytechnical University, China,Xi’an,Shaanxi,China,710072 について
Huang Ping について
National Institute of Measurement and Testing Technology,Cheng Du,Sichuan,China,610021 について
Institute of Microelectronics, Northwestern Polytechnical University, China,Xi’an,Shaanxi,China,710072 について
IEEE Conference Proceedings について
衝撃 について
電力消費 について
漂遊容量 について
検出器 について
キャラクタリゼーション について
チャネル について
ASIC について
CMOS について
混合信号 について
低雑音 について
等価雑音電荷 について
読出し について
図形・画像処理一般 について
Si について
検出器 について
低雑音 について
読み出し について
ASIC について