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J-GLOBAL ID:202102284635544382   整理番号:21A2453717

SREVAS:変化するアルベドと鏡面性の下での陰影に基づく表面精密化【JST・京大機械翻訳】

SREVAS: Shading Based Surface Refinement under Varying Albedo and Specularity
著者 (4件):
資料名:
巻: 12  号: 21  ページ: 3488  発行年: 2020年 
JST資料番号: U7270A  ISSN: 2072-4292  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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シェーディングとステレオビジョンは,画像から3D表面を再構成する2つの相補的方法である。ステレオビジョンは全体形状を十分に再構成できるが,形状が細かい詳細を復元できるテクスチャ無しと非Lambertian領域で脆弱である。本論文では,マルチビューステレオにより生成された表面を精密化するための,新規で一般的な遮光ベース手法を提案した。遮光ベースの表面精密化法の大部分と異なり,新しい開発は,理想的なランバート反射率,既知の照明,あるいは均一表面アルベドを仮定しない。代わりに,鏡面反射率を考慮して,照明は任意であり,アルベドは不均一であった。球面調和照明と鏡面反射率でイメージングプロセスをモデル化する目的関数を解くことにより,表面精密化を達成した。著者らの実験は,明白な鏡面反射とランバートと鏡面反射の混合物による屋外シーンの屋内シーンの画像を用いて実行した。現在のマルチビューステレオとシェーディング方式によって作られた表面と比較して,開発した方法は,評価した場面において,より低い省略率(6.11%対24.25%)で,より微細な詳細を回復できる。画像が低コスト,オフザイスカメラで撮られるとき,利益はより明白である。したがって,様々なアルベドと鏡面性から成る一般的な遮光モデルは,日常的な表面再構成実行において使用されることが推奨される。Copyright 2021 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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図形・画像処理一般  ,  パターン認識 
引用文献 (73件):
  • Agarwal, S.; Snavely, N.; Seitz, S.M.; Szeliski, R. Bundle adjustment in the large. In European Conference on Computer Vision, Crete, Greece, 5-11 September 2010; Springer: Berlin/Heidelberg, Germany, 2010.
  • Beardsley, P.; Tort, P.; Zisserman, A. 3D model acquisition from extended image sequences. In European Conference on Computer Vision, Cambridge, UK, 14-18 April 1996; Springer: Berlin/Heidelberg, Germany, 1996; Volume 1065, pp. 683-695.
  • Wu, C.; Agarwal, S.; Curless, B.; Seitz, S.M. Multicore bundle adjustment. In Proceedings of the CVPR 2011, Providence, RI, USA, 20-25 June 2011; pp. 3057-3064.
  • Seitz, S.M.; Diebel, J.; Scharstein, D.; Szeliski, R. A Comparison and Evaluation of Multi-View Stereo Reconstruction Algorithms. In Proceedings of the 2006 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, New York, NY, USA, 17-22 June 2006; pp. 519-528.
  • Furukawa, Y.; Ponce, J. Accurate, dense, and robust multiview stereopsis. IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell. 2010, 32, 1362-1376.
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タイトルに関連する用語 (4件):
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