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J-GLOBAL ID：202102284821776805   整理番号：21A0312992

二項分布におけるVSIEWMA制御図の経済設計【JST・京大機械翻訳】

Economic design of variable sampling intervals EWMA control chart under binomial distributions

著者 (2件)： Xue Li (天津大学管理与経済学部,天津300072;鄭州航空工業管理学院管理工程学院,河南鄭州450046) ,  He Zhen (天津大学管理与経済学部,天津300072)
資料名： Xitong Gongcheng Xuebao  (Xitong Gongcheng Xuebao)
巻： 35  号： 5  ページ： 711-720  発行年： 2020年 
JST資料番号： C2067A  ISSN： 1000-5781  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： プロセス制御コストを削減し、同時に監視不合格品数の効率を高めるため、二項分布における可変サンプリング区間(VSI)指数加重移動平均(EWMA)制御図の経済設計問題を研究した。最初に,品質損失関数と予防保全戦略に基づいて,VSI二項EWMA制御図の共同経済モデルを構築した。次に,最小期待損失関数を用いて,遺伝的アルゴリズムを用いて,制御図の設計パラメータの最適値を決定した。次に,結合経済モデルの感度解析を行い,そして,期待損失関数は,ユニットサンプリング費用,プロセス変動および製品不合格時間の増加とともに,増加した。結合経済モデルに基づいて設計したVSI二項EWMA制御図は,最小単位時間期待損失コストを持ち,統計的手法により設計されたVSI二項EWMA制御図より優れていた。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 経済モデル ,  損失関数 ,  *二項分布 ,  プロセス制御 ,  予防保全 ,  感度解析 ,  統計的方法 ,  遺伝的アルゴリズム
準シソーラス用語： 不合格 ,  プロセス変動 ,  設計変数 ,  最適値 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 計算機シミュレーション  (JE11000H) ,  経営工学一般  (KA01010C)

タイトルに関連する用語 (3件)： 二項分布 ,  経済 ,  設計