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J-GLOBAL ID：202102285413598341   整理番号：21A0552421

位相変調を伴う二重スリット干渉実験

Double-slit interference experiment with phase modulation

著者 (7件)： 原田研 (理化学研究所) ,  高橋由夫 (日立製作所) ,  明石哲也 (日立製作所) ,  児玉哲司 (名城大学) ,  嶌田惠子 (理化学研究所) ,  小野義正 (理化学研究所) ,  森茂生 (大阪府立大学)
資料名： 日本表面真空学会学術講演会要旨集(Web)
巻： 2020  ページ： 79(J-STAGE)  発行年： 2020年 
JST資料番号： U1883A  ISSN： 2434-8589  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *位相変調 ,  *光学スリット ,  干渉 ,  電界放出顕微鏡 ,  *電子波
準シソーラス用語： *二重スリット

分類 (1件)： 粒子光学一般  (BD02010J)

タイトルに関連する用語 (4件)： 位相変調 ,  二重スリット ,  干渉 ,  実験