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J-GLOBAL ID:202102288381310610   整理番号:21A1860501

グローバルシャッタ型CMOSテラヘルツイメージセンサの利得・応答性のバラツキ補正機構

A Calibration Technique in Gain and Responsivity for Global Shutter CMOS Terahertz Image Sensor
著者 (4件):
資料名:
巻: 121  号: 39(MWP2021 1-8)  ページ: 6-9 (WEB ONLY)  発行年: 2021年05月19日 
JST資料番号: U2030A  ISSN: 2432-6380  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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グローバルシャッタ型CMOSテラヘルツイメージセンサに向けた,利得の画素バラツキ補正機構を提案する.テラヘルツ波を受信しMOSFETによって包絡線検波を行う際,製造バラツキの影響で画素ごとに利得の変動が生じる.我々は検波用MOSFETの動作点と応答性を決定する電流源を,基板電位にバイアスされたMOSFETに流れる微小電流を用いて校正し,全ての画素で同時に利得バラツキを抑える方法を提案する.適切に動作点を決定することで,利得の変動を抑えられることを確認した.(著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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電気・防災・防犯・昇降機設備,その他の建築設備  ,  光電変換管 
引用文献 (8件):
  • K. Kawase et al., Opt. Express, vol.11, no. 20, p.2549, 2003.
  • J. L. Hesler et al., 18th Int. Symp. Sp. Terahertz Technol., no. March, pp.89-92, 2007.
  • P. Helisto et al., 2006 European Microwave Integrated Circuits Conference, vol.4032, no. September, pp.35-38, Sep. 2006.
  • L. A. Samoska et al., IEEE Trans. Terahertz Sci.Technol., vol.1, no. 1, pp.9-24, 2011.
  • K. Wakita et al., 2016 21st International Conference on Microwave, Radar and Wireless Communications (MIKON), pp.1-4, 2016.
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