文献

J-GLOBAL ID：202102291117259485   整理番号：21A0991859

ジョイント特徴選択アルゴリズムによるIMF-DNAを用いた特異的エミッタ同定【JST・京大機械翻訳】

Specific Emitter Identification Using IMF-DNA with a Joint Feature Selection Algorithm

著者 (6件)： Wu Longwen (School of Electronics and Information Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China) ,  Zhao Yaqin (School of Electronics and Information Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China) ,  Feng Mengfei (School of Electronics and Information Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China) ,  Abdalla Fakheraldin Y. O. (School of Electronics and Information Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China) ,  Abdalla Fakheraldin Y. O. (College of Computer Science and Information Technology, University of Bahri, Khartoum 12217, Sudan) ,  Ullah Hikmat (School of Electronics and Information Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China)
資料名： Electronics (Web)  (Electronics (Web))
巻： 8  号： 9  ページ： 934  発行年： 2019年 
JST資料番号： U7178A  ISSN： 2079-9292  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 特定のエミッタ識別(SEI)は,従来の変調パラメータの代わりに弱い個々の特性を用いて,同じタイプの異なるエミッタを識別する技術である。SEIにおける最大の課題は,異なるエミッタと近接変調パラメータを区別するだけでなく,その変調パラメータが著しく変化するとき,特定のエミッタを同定することである。本論文では,パルスエンベロープにおける個人差を調べ,4種類のパルスエンベロープをモデル化した。特定のエミッタの同定のためのパルス包絡線と共に個々の特徴を利用するために,固有モード関数の異なる固有属性(IMF-DNA)特徴抽出アルゴリズムと結合特徴選択(JFS)アルゴリズムを提案し,最終的に提案したSEI技術を構成した。4つの他の特徴選択法と比較して,提案した特徴選択アルゴリズムは,分類のための最も有用な特徴を見つけるのに,より良く機能し,それは,特徴次元の減少に大いに役立った。無線周波数DNA(RF-DNA)と比較して,IMF-DNAは類似の条件下ではるかに優れた正確なエミッタ同定率を有した。実際のデータ検証法を開発し,特定のエミッタ同定のためのIMF-DNAの性能を検証した。この方法は200MHzのサンプリング速度で85.3%の正しい同定率を達成し,約10dBの推定信号対ノイズ比(SNR)を有した。Copyright 2021 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： SN比 ,  *アルゴリズム ,  特徴抽出 ,  *DNA【核酸】 ,  *特徴選択 ,  パルス ,  エンベロープ
準シソーラス用語： 個人差 ,  サンプリング速度 ,  無線周波数 ,  固有モード関数 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 特定エミッタ同定 ,  IMF-DNA ,  特徴選択 ,  パルスエンベロープ ,  サポートベクトルマシン

分類 (2件)： 生体計測  (EL03020C) ,  人工知能  (JE08000Z)

引用文献 (47件)：

• Langley, L.E. Specific emitter identification (SEI) and classical parameter fusion technology. In Proceedings of the WESCON/’93, San Francisco, CA, USA, 28-30 September 1993; pp. 377-381.
• Talbot, K.I.; Duley, P.R.; Hyatt, M.H. Specific emitter identification and verification. Technol. Rev. J. 2003, 113-133.
• Stove, A.G.; Hume, A.L.; Baker, C.J. Low probability of intercept radar strategies. IEE Proc. Radar Sonar Navig. 2004, 151, 249.
• Krishnamurthy, V. Emission management for low probability intercept sensors in network centric warfare. IEEE Trans. Aerosp. Electron. Syst. 2005, 41, 133-152.
• Lee, K.-W.; Lee, W.-K. The Low Probability of Intercept RADAR Waveform Based on Random Phase and Code Rate Transition for Doppler Tolerance Improvement. J. Korean Inst. Electromagn. Eng. Sci. 2015, 26, 999-1011.

タイトルに関連する用語 (7件)： ジョイント ,  特徴選択 ,  アルゴリズム ,  IMF ,  DNA ,  エミッタ ,  同定