特許
J-GLOBAL ID：202103013447854592
磁場計測装置、磁場計測装置の製造方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
渡辺 和昭
, 仲井 智至
, 松岡 宏紀
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-117701
公開番号（公開出願番号）：特開2017-223487
特許番号：特許第6825237号
出願日： 2016年06月14日
公開日（公表日）： 2017年12月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 直線偏光光を照射する光照射部と、
アルカリ金属原子が封入され、磁場の受感方向に配置されており、照射された前記直線偏光光の偏光面の回転角を、前記磁場の影響を受けて変化させる第1セル及び第2セルと、
第1基準面上に配置され、前記直線偏光光を前記第1セルに入射させる第1光学素子と、
第2基準面上に配置され、前記直線偏光光を前記第2セルに入射させる第2光学素子と、
を備え、
前記第1基準面に対して照射された光の第1の反射光の光軸の向きと、前記第2基準面に対して照射された前記光と平行な光の第2の反射光の光軸の向きと、が同一方向となるように、前記第1基準面に対する前記第2基準面の位置が調整されており、
該調整によって、前記第1セルに入射させる前記直線偏光光の向きと、前記第2セルに入射させる前記直線偏光光の向きと、が同一方向となるように調整されており、
前記第1セル及び第2セルにおいて電気的に検出された前記直線偏光光の偏光面の回転角の変化から前記磁場を計測することを特徴とする磁場計測装置。
IPC (2件)：
G01R 33/26 ( 200 6.01)
, G01R 33/032 ( 200 6.01)
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (5件)
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