特許
J-GLOBAL ID：202103015374707254
光検出装置及び方法並びに測距装置及び方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
龍華国際特許業務法人
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2018020821
公開番号（公開出願番号）：WO2019-229891
出願日： 2018年05月30日
公開日（公表日）： 2019年12月05日
要約：
本実施形態に係る測距装置及び測距方法によれば、検出部から出力される反射光の検出信号の強度が第1閾値を超える第1イベントの発生及び第1閾値より小さい又は大きい第2閾値を下回る第2イベントの発生をそれぞれ投光部による測定光の投射からの予め定められた経過時間毎にカウントし、このカウントを複数回の光の投射について積算して得られる積算結果(すなわち、ヒストグラム)に基づくことで、外光に由来するランダムなノイズを含む検出信号から反射光に由来する目標信号を抽出して光の投射から検出部により検出されるまでの検出時間を決定し、そして対象物までの距離を精密に決定することができる。
請求項（抜粋）：
対象物に光を複数回、投射する投光部と、
前記対象物からの反射光を検出する検出部と、
前記投光部による光の投射毎に、前記検出部から出力される検出信号の強度が第1閾値を超える第1イベントの発生及び前記第1閾値より小さい又は大きい第2閾値を下回る第2イベントの発生をそれぞれ前記光の投射からの予め定められた経過時間毎にカウントし、該カウントを前記複数回の光の投射について前記経過時間毎に積算し、該積算結果に基づいて前記光の投射から前記検出部により前記反射光が検出されるまでの検出時間を決定する処理部と、
を備える光検出装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (14件)：
5J084AA05
, 5J084AD01
, 5J084BA04
, 5J084BA20
, 5J084BA36
, 5J084BB02
, 5J084BB04
, 5J084BB12
, 5J084BB20
, 5J084CA03
, 5J084CA23
, 5J084CA32
, 5J084DA08
, 5J084EA02
