特許
J-GLOBAL ID：202103016448533292
レーザ測量装置の製造方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前川 直輝
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-162452
公開番号（公開出願番号）：特開2018-031613
特許番号：特許第6794175号
出願日： 2016年08月23日
公開日（公表日）： 2018年03月01日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 少なくとも測距を行う光波距離測定機構と、レーザ光線を回転照射して基準面を形成するレーザ回転照射機構とを一体に備えるレーザ測量装置の製造方法であって、
前記光波距離測定機構及び前記レーザ回転照射機構が別体の状態で、前記光波距離測定機構が有する第1のチルトセンサ及び前記レーザ回転照射機構が有する第2のチルトセンサそれぞれのチルトオフセット値を測定する第1のチルトオフセット値測定工程と、
前記レーザ回転照射機構を前記光波距離測定機構に載置する載置工程と、
前記光波距離測定機構が有する整準部により整準を行う整準工程と、
前記光波距離測定機構に固定する固定工程と、
を備えるレーザ測量装置の製造方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01C 15/00 103 E
, G01C 15/00 103 A
