特許
J-GLOBAL ID：202103017347418820
大電力レーザダイオード試験システムおよび製造方法
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (7件)：
田中 伸一郎
, 弟子丸 健
, ▲吉▼田 和彦
, 松下 満
, 倉澤 伊知郎
, 山本 泰史
, 渡邊 誠
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-521358
特許番号：特許第6833841号
出願日： 2016年10月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 大電力レーザダイオード試験システムであって、
少なくとも1つのハウジング本体を含み、前記少なくとも1つのハウジング本体内には少なくとも1つのデバイス試験モジュールコンパートメントが形成され、
少なくとも1つの電力供給装置を含み、
少なくとも1つのインターコネクトシステムを含み、前記インターコネクトシステムは、前記少なくとも1つの電力供給装置と連絡関係にあり、
少なくとも1つのシステム制御装置を含み、前記システム制御装置は、前記少なくとも1つのインターコネクトシステム経由で前記少なくとも1つの電力供給装置と連絡関係にあり、
少なくとも1つの熱制御システムを含み、前記熱制御システムは、前記少なくとも1つのインターコネクトシステム経由で前記少なくとも1つの電力供給装置および前記少なくとも1つのシステム制御装置のうちの少なくとも一方と連絡関係にあり、
前記少なくとも1つのデバイス試験モジュールコンパートメント内に配置されるとともに前記少なくとも1つのインターコネクトシステム経由で前記少なくとも1つの電力供給装置、前記少なくとも1つのシステム制御装置、および前記少なくとも1つの熱制御システムのうちの少なくとも1つと連絡関係にあるよう構成された少なくとも1つのデバイス試験モジュールを含み、前記少なくとも1つのデバイス試験モジュール内には少なくとも1つのキャリヤ装置ポートが設けられ、
少なくとも1つのキャリヤ装置を含み、前記少なくとも1つのキャリヤ装置は、該少なくとも1つのキャリヤ装置に取り外し可能に結合された少なくとも1つのレーザダイオードデバイスを支持するよう構成され、前記少なくとも1つのキャリヤ装置は、前記少なくとも1つのデバイス試験モジュール経由で前記少なくとも1つの電力供給装置、前記少なくとも1つのシステム制御装置、および前記少なくとも1つの熱制御システムのうちの少なくとも1つと連絡関係にあり、
前記デバイス試験モジュールは、更に、
少なくとも1つのクランプベースプレート、少なくとも1つのクランプアライメント本体、前記少なくとも1つのクランプベースプレートと前記少なくとも1つのクランプアライメント本体との間に配置された少なくとも1つのブラダを含む少なくとも1つの下側組立体を含み、
前記少なくとも1つの下側組立体の少なくとも1つのブラダと流体連通状態にありかつ該少なくとも1つのブラダを選択的にインフレートさせるよう構成された少なくとも1つのブラダインフレーションシステムを含み、前記少なくとも1つのブラダインフレーションシステムは、前記少なくとも1つのインターコネクトシステム経由で前記少なくとも1つの電力供給装置と連絡状態にあり、
前記少なくとも1つの下側組立体の近くに配置された少なくとも1つの上側組立体を含み、前記少なくとも1つの上側組立体は、少なくとも1つの熱制御回路および該少なくとも1つの熱制御回路上に実装された少なくとも1つの電気接続システムを含み、前記少なくとも1つの下側組立体と前記少なくとも1つの上側組立体は、前記少なくとも1つのキャリヤ装置を受け入れるよう構成された少なくとも1つのキャリヤ装置受け具を形成している、大電力レーザダイオード試験システム。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01R 31/26 H
, G01R 31/26 F
