テラヘルツ波を用いたアモルファス薄膜のキャリア輸送特性非破壊評価技術の開発

体系的課題番号：JPMJSK1125
実施期間：2011 - 2013
実施機関 (1件)：
研究責任者： ( , 基幹研究所, 研究員 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJSK1125
研究概要：

アモルファス薄膜は、フレキシブル・プリンテッドを特徴とする次世代エレクトロニクス産業を支える材料として期待され、新材料合成やプロセス技術の開発によるキャリア輸送特性向上が求められています。本研究では、アモルファス薄膜の研究開発加速化に向けて、テラヘルツ分光の高感度化と広帯域分光解析手法の確立より、アモルファス薄膜のキャリア輸送特性を非破壊で定量評価する技術開発に取り組みます。これにより、この分野の国際競争力強化に貢献することを目指します。

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研究制度：＞＞
上位研究課題：テラヘルツ波新時代を切り拓く革新的基盤技術の創出
研究所管機関：

国立研究開発法人科学技術振興機構

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