研課題
J-GLOBAL ID:202104001345241788  研究課題コード:20347060

光位相の異方的変化に注目したフィルム表面のキズ検出技術の開発

体系的課題番号:JPMJTM20GH
実施期間:2020 - 2021
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , ポストLEDフォトニクス研究所, 特任講師 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJTM20GH
研究概要:
申請者等が開発した複屈折プロファイラーは、特殊な回折格子に生じる偏光機能性を利用したもので、「2次元の複屈折分布」を、高速・高解像で「光強度分布」に変換し定量化できる。この技術を利用することで、延伸処理されたフィルムに生じている複屈折や厚さの分布を定量的にイメージングできる。従って、現在は熟練者が目視にて検査している、「ディスプレイ用途に代表される高品位のフィルム素材の検査」への応用が期待できる。そこで本研究では、このようなフィルム検査における企業ニーズに、複屈折プロファイラーによる定量的検査を適用し、上記の熟練検査者に匹敵する検査能力を有する光計測技術の実現可能性について検証する。
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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