研課題
J-GLOBAL ID:202104001904102629  研究課題コード:7700107104

NC-AFM技術を基盤とする超高密度LSI対応ICテスター等の技術開発

実施期間:2001 - 2004
実施機関 (1件):
研究責任者: ( , 大学院保健科学研究院 )
研究概要:
原子分解能で絶縁物表面のスピンの観測に成功した。この研究成果に基づき、IT社会の実現に向けての重要な基盤技術である極低温非接触原子間力顕微鏡および交換相互作用力顕微鏡の実用化に向けての試験研究を実施するものである。極低温での非接触原子間力顕微鏡の商品は現在、市場には存在せず、本装置により極低温の原子分解能での原子像、電子状態、スピン状態の測定が可能となり、ナノ材料・デバイス実現のための計測・制御装置としてナノテクノロジー創成の基盤技術として重要なだけでなく、将来的にはスピンボルテックス、スピンメモリ、DNAのスピンマッピング・手術等への途を切り拓くものである。
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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