研課題
J-GLOBAL ID：202104002831217070
研究課題コード：7700050011
Nano-CMOS LSI 回路の実現に貢献する先端テスト技術の研究開発
実施期間：2011 - 2014
実施機関 (1件)：
研究代表者：
(
, 大学院 情報工学研究院, 教授 )
研究概要：
本研究の目的は、半導体集積回路の微細化が数ナノメートルレベルまで進んだ場合に発生しうる従来にないほど複雑な欠陥に対応できる総合的な半導体集積回路テスト技術の研究開発である。 具体的には、日本側チームは起き得る欠陥・故障についての故障モデルの提案、高品質・低コストの故障判定技術及び故障箇所を特定する技術の開発を担当し、台湾側チームは欠陥の種類、分布、原因を解明する解析技術、仮に故障が発生しても一定の機能を維持するフォールトトレランス技術の開発及びテスト技術の統合と総合評価を担当する。 双方の研究チームが相互補完的に取り組むことで、革新的な故障モデル、半導体集積回路テストの理論及び手法の確立を通じて、次世代の半導体集積回路の実現に大きく貢献することが期待される。
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ナノデバイス
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