研課題
J-GLOBAL ID:202104002986543527  研究課題コード:07051319

状態選別XAFS分光

体系的課題番号:JPMJPR043E
実施期間:2004 - 2007
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 多元物質科学研究所, 助手 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJPR043E
研究概要:
X線の発光と吸収には密接な関連があり吸収端近傍の励起に伴う発光からは、通常の吸収法では測定できない「寿命幅に制限されない、状態別のX線吸収微細構造(XAFS)-状態選別XAFS」が導出できます。この分光法の意義は広く認められていますが、検出感度の低さから、なお実用には至っていません。本研究は、世界最高の感度をもったX線発光分光器を新規に開発し、状態選別XAFS分光の実用化に挑むものです。
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
上位研究課題: 構造機能と計測分析
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構
報告書等:

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