研課題
J-GLOBAL ID:202104003904898485  研究課題コード:08069909

マイクロ・ナノバブル技術を活用した半導体ウエハ、冶工具の洗浄技術開発

実施期間:2008 - 2008
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 先端技術部門, 主任研究員 )
研究概要:
半導体製造における異物など汚染物質の洗浄に関わる有機溶剤の使用量増大とその排液処理などの洗浄コストおよび環境負荷の増大が問題となってきている。そのため、マイクロ・ナノバブル技術を半導体ウエハや製造用冶工具類の洗浄に応用し、有機溶剤を大幅に削減した洗浄技術を開発するとともに半導体ウェハ・治具洗浄試験装置を試作し、半導体製造における有機溶剤の使用量を画期的に削減するとともに排液処理負荷の軽減および製造コストの大幅な低減を図るものである。
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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