研課題
J-GLOBAL ID:202104004409187633  研究課題コード:17938725

スパース位相回復法によるコヒーレント軟X線オペランド計測

体系的課題番号:JPMJPR177A
実施期間:2017 - 2020
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 統合型材料開発・情報基盤部門, 主任研究員 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJPR177A
研究概要:
X線回折顕微鏡は、試料からのコヒーレント回折像に反復的位相回復法を適用して試料像を再構成するX線イメージング手法です。本研究では、デバイスや機能性材料の特性を解明するためにコヒーレント軟X線回折を利用したオペランド計測手法を開発します。特性発現に関与する活性領域の情報を効率よく抽出するために、スパースモデリングに基づく位相回復アルゴリズムや機械学習による特徴量の抽出方法を創出していきます。
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した研究課題タイトルの用語をもとにしたキーワードです
研究制度:
上位研究課題: 計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構
報告書等:

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