研課題
J-GLOBAL ID:202104007647300056  研究課題コード:15658818

ダイオード特性を有する抵抗変化型不揮発性メモリの高エンデュランス・高保持特性の探索試験

体系的課題番号:JPMJTM15G6
実施期間:2015 - 2016
実施機関 (1件):
研究責任者: ( , 大学院工学研究院, 教授 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJTM15G6
研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

前のページに戻る