研課題
J-GLOBAL ID:202104008327955573  研究課題コード:08068797

トランジスタ不良に伴う遅延故障に対する故障検査法の開発

実施期間:2008 - 2008
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 大学院理工学研究科, 准教授 )
研究概要:
近年の高速LSIでは、動作タイミングに影響を与えるような物理的欠陥が問題となっている。特にトランジスタの不良に伴う遅延故障は、故障動作が多岐に渡り、故障検査が困難である。そこで本研究では、トランジスタ不良に伴う遅延故障をトランジスタレベルではなく論理レベルで故障動作をモデル化し、それを効率よく検出するような故障検査法を開発する。ここでは特に、多くの企業、研究所で利用されている縮退故障用テストパターン生成ツールを応用した、テストパターン生成法を開発する。
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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