研課題
J-GLOBAL ID:202104009586404786
研究課題コード:7700006649
電磁式マイクロマテリアル疲労試験機の開発
実施期間:2005 - 2005
実施機関 (1件):
研究代表者:
(
, 理工学部 )
研究概要:
種々のマイクロマテリアルやマイクロマシンの開発が推進され、医療分野、情報・通信等のIT関連分野等への応用が急速に拡がりつつある。このようなマイクロマシンの設計・製作にあたり構成部材の疲労特性を知る必要があるが、材料のサイズが極めて小さいため、従来の試験機でこれを実験的に調べることはできない。本研究は、このようなマイクロマテリアルに対して、電磁力を応用して正弦波状の微小荷重を繰返し負荷できるマメクロマテリアル用の軽量疲労試験機を開発するとともに、アモルファス箔帯について、疲労試験を実施して本試験機の基本性能を検証する。
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