研課題
J-GLOBAL ID:202104010333729300  研究課題コード:17940624

ビッグデータアプローチによるX線レーザーイメージングの高度化

体系的課題番号:JPMJPR1772
実施期間:2017 - 2020
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 電子科学研究所, 助教 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJPR1772
研究概要:
新世代のX線光源であるX線自由電子レーザーによる計測と、大規模データの高度自動解析技術を組み合わせることによって、従来試料固定や放射線損傷などの問題から捉えることが困難であった、液中における個別試料の特異的な構造を高空間分解能に可視化し、材料科学や生物学など幅広い学問分野の発展に寄与可能な新たな顕微イメージング領域の開拓を目指します。
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
上位研究課題: 計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構
報告書等:

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