研課題
J-GLOBAL ID:202104011284586987  研究課題コード:07051340

価電子をその場観測する顕微軟X線発光分光法の開発

体系的課題番号:JPMJPR0637
実施期間:2006 - 2009
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 分子科学研究所, 助手 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJPR0637
研究概要:
軟X線が物質に照射されると、1%以下の確率で軟X線発光が起こります。本研究では、この軟X線発光のうち50-500 eVの領域で、高エネルギー分解能軟X線発光スペクトルを、電場印加下、電解液共存下など、機能性材料が機能を発揮しているその場で測定します。さらに、顕微軟X線発光分光器を開発し、機能性電子材料の価電子について、機能発現時にその場で観測できる高精度な顕微分光法を確立します。
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
上位研究課題: 構造機能と計測分析
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構
報告書等:

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