ひずみ分布計測用超小型光学デバイスの試作

実施期間：2011 - 2012
実施機関 (1件)：
研究責任者： ( , システム工学部, 准教授 )
研究概要：

橋梁や鉄塔などの鋼材でつくられた構造物の内部欠陥の検査を効率的に行うために、超小型のデジタルホログラフィを用いた光学式ひずみ分布計測デバイスを試作する。提案者は、従来は最低3本必要であった物体光を1本にして複数の撮像素子を用いる手法を提案している。これによって光学系が格段に簡素化することができるようになり、デバイス全体を小型化することができる。本研究では、最近入手可能となった約2ミリ角の撮像素子を複数個用いた光学デバイスを試作する。このようなものは他にはなく、世界一小型の計測デバイスとなる。これによって、実用的なひずみ分布計測装置が比較的安価に実現できるようになり、技術移転が可能な技術となる。

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研究制度：＞＞＞
研究所管機関：

国立研究開発法人科学技術振興機構

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