研課題
J-GLOBAL ID:202104012530912836  研究課題コード:14530385

コヒーレントX線を用いた摩擦界面ダイナミクス評価手法の確立

体系的課題番号:JPMJPR14KD
実施期間:2014 - 2017
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 放射光科学総合研究センター, 研究員 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJPR14KD
研究概要:
本研究では、摩擦界面での分子スケールダイナミクスをコヒーレントX線によるダイナミクス測定手法によって明らかにし、特に高分子ブラシ界面を扱い、拘束条件下での高分子のダイナミクスを測定対象とします。ダイナミクス測定には、X線自由電子レーザーSACLAおよびSPring-8のコヒーレントX線を利用した手法を駆使し、近接表面間で発現する高分子ブラシの緩和現象を時空間スケール依存で測定し、摩擦機構の解明を目指します。
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
上位研究課題: 分子技術と新機能創出
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構
報告書等:

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