透過型陽電子顕微鏡

体系的課題番号：JPMJSN05A2
実施期間：2005 - 2009
実施機関 (1件)：
研究責任者： ( , 大学院工学研究科, 教授 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJSN05A2
研究概要：

サブnmレベルの点欠陥から数nmのボイドといった空孔型欠陥のサイズ・量に関して、三次元分布情報を提供する透過型陽電子顕微鏡を開発します。線形加速器により発生した陽電子ビームの輸送方式、輝度増強光学システム、高効率減速材等の開発により陽電子マイクロビームの発生法を確立し、それと透過型電子顕微鏡との融合により開発課題を達成します。また、陽電子データの標準試料の整備等を行います。

研究制度：＞＞＞＞
研究所管機関：

国立研究開発法人科学技術振興機構

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