研課題
J-GLOBAL ID:202104013323471990  研究課題コード:15663670

電気抵抗率の2D/3Dマッピングと欠陥検出への応用

体系的課題番号:JPMJTM15BB
実施期間:2015 - 2016
実施機関 (1件):
研究責任者: ( , 化学生命工学部, 准教授 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJTM15BB
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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