研課題
J-GLOBAL ID:202104013697485995  研究課題コード:09157841

超伝導・磁性薄膜のJc,μ評価装置の開発

実施期間:2009 - 2009
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 大学院理工学研究科, 教授 )
研究概要:
超伝導薄膜や磁性薄膜の臨界電流密度(Jc)や透磁率(μ)を非破壊、非接触で測定できるシステムの開発は重要である。我々は、永久磁石を用いた新しい測定システムを提案し、その測定機器を開発している。試料を2次元的に移動させること或いは、測定素子を2次元的に移動させることにより、Jcやμの2次元マッピングが容易に測定できる。また、操作が容易なこと、スペースを取らないことなどを考慮し、パソコンで操作可能な、卓上型システムを開発する。
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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