薄膜ディスプレイ品質保証用の広帯域複屈折測定装置の開発

体系的課題番号：JPMJTM19AX
実施期間：2019 - 2020
実施機関 (1件)：
研究代表者： ( , 工学部, 教授 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJTM19AX
研究概要：

フレキシブル基板,フィルム,樹脂,透明電極,接着剤などをマルチ波長でインライン計測し,高品質管理することが強く求められている,低価格の超広帯域光源を開発し,短時間時間での複屈折位相差計測法を開発する.

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研究制度：＞＞＞＞
研究所管機関：

国立研究開発法人科学技術振興機構

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