低速・軽イオン励起特性X線の精密分析技術

体系的課題番号：JPMJSN04B6
実施期間：2004 - 2006
実施機関 (1件)：
研究責任者： ( , 超高圧電顕共用ステーション, ステーション長 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJSN04B6
研究概要：

数k~数十keVのエネルギーを持つ正電荷のイオンを、非電気伝導体の物質に照射することにより発生する低エネルギーのX線を測定することで、これまで極めて難しかった物質中のホウ素、炭素、窒素、酸素等の軽元素を高感度で分析する技術を確立します。本技術は小型の収束したイオンビームを用い、X線の新しい検出方式を実用化することで可能となり、他の分析機器とも容易に組み合わせて使用できるものです。

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研究制度：＞＞＞＞
研究所管機関：

国立研究開発法人科学技術振興機構

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