研課題
J-GLOBAL ID:202104015288499278  研究課題コード:08069542

ナノワイヤ探針カンチレバの作製と高アスペクトパターンの三次元計測

実施期間:2008 - 2008
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 大学院工学研究科, 准教授 )
研究概要:
半導体デバイスの微細化に伴い、作製した回路パターンの形状をより高精度に計測する技術が求められている。原子間力顕微鏡(AFM)は、三次元形状をナノメートル分解能で計測可能であるが、測定結果に探針形状が重畳されることや、微細パターンでは探針が入らないことがあるため、先鋭な探針が必要とされている。そこで、本研究ではAFMカンチレバの探針先端にナノワイヤを成長させる高アスペクト探針作製法の確立を目指す。また、作製した高アスペクト探針を用いて、半導体デバイスの高アスペクトパターンの三次元計測を試みる。
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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